掃描電子顯微鏡(SEM)
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種電子顯微鏡,用于掃描微生物表面,該表面使用低能量移動的電子束聚焦并掃描樣本。
電子顯微鏡的發(fā)展歸因于光學顯微鏡波長的低效率。與光學顯微鏡相比,電子顯微鏡具有短的垂直波長,因此可以實現(xiàn)更好的分辨率。
掃描電子顯微鏡的原理
與使用透射電子的透射電子顯微鏡不同,掃描電子顯微鏡使用發(fā)射的電子。
掃描電子顯微鏡的原理是施加動能以產(chǎn)生有關電子相互作用的信號。這些電子是二次電子,后向散射電子和衍射后向散射電子,用于觀察結(jié)晶元素和光子。二次電子和反向散射電子用于產(chǎn)生圖像。從樣品中發(fā)射出的二次電子起著檢測樣品的形態(tài)和形貌的主要作用,而反向散射的電子則在樣品元素的組成中表現(xiàn)出對比度。
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